DX400是精微高博公司最新推出的高效型比表面积测定仪，基于动态色谱分析法原理实现BET比表面积快速测定，相比传统产品，实现准确和快速两大超越
准：可准确测试超小比表面积0.1 m2/g的标准样品，精确到0.01m2/g。
快：测试速度是传统产品的3倍，可实现1小时28个标准样品的超高测试效率。
非常适合钴酸锂、三元材料、磷酸铁锂、石墨、硅碳等电池正负极材料及其他小比表面积样品的测试。

技术优越性

独有的Dtech技术融合了Dstable稳定测试技术、Dcal自动校正技术、Dtrap精确测试技术、Dsignal高效测试技术及Dctrl防抽飞控制技术，使得DX 400系列的测试效率极高、测试结果的重复性、稳定性、准确性、平行性均达到行业领先水平，尤其是对比表面积小于1 m2/g的样品。

Dstable稳定测试技术

采用独有的Dstable稳定测试技术确保仪器测试过程中TCD信号不受液氮面变化的影响，保证测试结果的重复性和稳定性。

Dcal自动校正技术

采用便捷的Dcal自动校正技术确保仪器生命周期中TCD信号变化不影响测试结果，保证仪器生命周期中测试结果的重复性和稳定性。

Dtrap精确测试技术

采用独有的Dtrap精确测试技术确保测试过程中TCD信号的控制精度达0.1mV，且不受环境影响，保证测试结果的准确性。

Dsignal高效测试技术

采用独有的Dsignal高效测试技术实现单点BET测试结果在5min内高效完成，测试效率最高达5min测试4个样品。

Dctrl防吹飞控制技术

采用独有的Dctrl防吹飞控制技术，避免测试过程中因样品吹飞导致的仪器气路污染，保护仪器运行安全，延长仪器的生命周期。

产品特点

脱附峰精准计算

采用吸脱附过程中的脱附过程参与峰面积计算， 经过实 验验证，此方法比吸附法具有更高的精确性和稳定性， 非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料小比表面的 测定；实验方法可选单点BET或多点BET。

可集联与远程访问

仪器通讯接口为LAN口，可实现一台电脑作为上位机集联控 制，可远程访问和控制该上位机电脑。

独立脱气系统

标配完全独立的脱气系统，吹扫和真空两种方式可选， 对样品的预处理更智能灵活，更方便。不占用分析站预 处理样品，提高测试效率。

运行状态直观显示

仪器前面板上配置状态显示系统，显示仪器的工作原理 图，每个阀位增加LED灯指示电磁阀的通断，在实验过 程中可直观判断仪器的运行过程。

样品卡头专利技术

既保留了快插接头安装样品管时的简单易操作性，又没有 快插接头因多次使用导致密封组件受损而引起的漏气。该 卡头可重复拆装且保证密封，相对于快插接头能承受较高 的压力而不泄漏。

安全防护机制

为保证仪器的运行安全， （1）TCD检测器增加尾流传感器，防止其干烧，保证 TCD信号的稳定性，同时延长TCD检测器的使用寿命。 （2）开发出底层的监护程序，监控仪器的运行状况， 当仪器出现异常等危险时，自动控制仪器，解除产生危 险的异常状况，保护仪器和操作人员的安全。

多种杜瓦瓶可选

高性能真空玻璃内胆杜瓦瓶，采用自主研发工艺定制生产， 既有玻璃内胆的保温效果，又有金属内胆的安全性能，不易 碎； 高性价比真空玻璃内胆杜瓦瓶，保温效果好，可连续测试 10个以上样品； 金属内胆杜瓦瓶，可获得准确结果，安全系数极高；

软件控制

全新开发的DX 400控制软件是在Windows平台上实现操作控制、数据采集、计算分析和报告预览的智能化软件。

测试结果实时计算

测试界面上动态显示每个样品的吸附过程，吸附峰实时显示，每个样品的BET比表面积实时计算。

仪器控制过程实时记录储存

Message窗口可切换显示，实时记录仪器实验控制过程和软件手动操作信息，方便工程师对异常数据的分析和远程诊断。

典型分析实例

BET比表面积重复性＜1%

BET比表面积重复性＜1%

超小比表面积0.1 m2/g的重复性达到0.01m2/g

BET比表面积稳定性＜1%

BET比表面积平行性＜1%

产品参数

测试功能