LA-3型植物根系分析仪系统用于对洗净的植物根系进行多参数快速分析

1、LA-8型植物根系分析仪系统可分析测量：

1)根总长；

2)根平均直径：

3)根总面积：

4)根总体积；

5)根尖计数；

6)分叉计数；

7)交鉴计数；

8)根直径等级分布参数；

9)可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积等，及其分布参数；

10)根尖段长分布

11)能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积：

12)能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，可单独自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等；自动分析根系分级伸展的等级分布情况，可达到5级侧根的自动分析；

13)可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数(分档数、档直径范围任意可改);

14)大批量的全自动根系分析，可对各自动分析结果图进行编辑修正；

15)能用盒维数法自动测根系分形维数；

16)能进行根的分叉教剪、合并、连接等修正，像正操作能回退，以快速获得正确的结果。精度：根长态士1%;面积：图像质量时(1%,标准图像质量时≤3%;

17)匹配专门的双光源照明系统，提供离分辨率的彩色或黑白图像，去除了阴影和不均匀现象的影响，有效保证图像质量；

18)采用非统计学方法测量计算出交叉重登部分根系长度等，可保存或读取TIFF、BMP、FNG、JFEG、FCM标准格式的图像。

19)可莱做针叶面积、体积测量，以及棉纤维粗细、长度测量。

2、人工辅助修正：图像可放大缩小和局部观察，可实现鼠标区域选择统计、对污染区的辅助教剪或橡皮擦修正。

3、统计数果监视：监视和修正植物对象分析的精度。

4、自动杂质别除：根据尺寸等方面的区别，进行自动杂质别除。

5、辅助测量功能：

尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正；

长废测量：其有距随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量；

6、数据导出

分析图像、分布图、结果数据可保存，分析结果输出至Excel表，可输出分析标记图

LA-3型植物根系分析仪系统标配光学分辨字4800×9600、A4加长的Nicrotek ScanWaker i800双光源彩色扫描仪，分析测量面积：反射稿为44加长幅面(35.6 cm×21.6 cm),扫描根面积20 cm×20 cm,可分辩的尺寸0.008 x0.008 mm。植物图像分析测量精度(由扫措仪决定，可软件部分校正):x向≤士0.5 %,Y向≤士0.25%;长度测量苴现性误差《±0.25%;面积测量苴现性误差<

±0.25;台间测量差异《±0.25%。测量分析时间：30~60秒。用户需另配计算机。

注：若需大幅面分析，请选配：光学分辨字2400×4800dpi、A3的Microtek Fhantom 9850L plus扫描仪。

若需要对原位根系图像进行分析，请单独选择万深LA-3根系分析系统增强版(原位根系图像分析系统):http://ww.instrument.com.cn/netshow/8H102434/C166872.htm

产品资料、图像、实战操作视频可从http://www.wseen.com的网站下载。